CDSCB10M7GF123-R0 Murata Electronics North America, CDSCB10M7GF123-R0 Datasheet - Page 7

• Manufacturer Part Number: CDSCB10M7GF123-R0
• Description: DISCR SMD FOR TOSHIBA TA31275
• Manufacturer: Murata Electronics North America
• Series: CDSCBr

Specifications of CDSCB10M7GF123-R0

• Frequency: 10.7MHz Center
• Filter Type: Discriminator
• Insertion Loss: 3dB
• Package / Case: 0.177" L x 0.079" W x 0.039" H (4.50mm x 2.00mm x 1.00mm)
• Mounting Type: Surface Mount
• Lead Free Status / RoHS Status: Lead free by exemption / RoHS Compliant
• Impedance: -
• Bandwidth: -
• Other names: 490-4728-2

仕様書番号
Drawing No. JGM40-2201B
※ 注意 : 製品はいずれの試験前後においても、チップ単体として測定します。
Note : Shall be measured without any additional components
8-4
8-5
8-6
高温放置
Dry Heat
(Storage)
低温放置
Cold
(Storage)
熱衝撃特性
Thermal Shock
株式会社 村 田 製 作 所
項 目
Item
Sカーブ特性 S Curve characteristics
10.7000MHz±200kHz点での電圧差
Difference of voltage between at
10.7000MHz±200kHz
for each of the above mentioned tests.
温度+85±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: +85±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温度-40±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: -40±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温 度 -55°C の 恒 温 槽 中 に 30 分 間 保 持 後 、 温 度
+85°Cの恒温槽中に直ちに移し、30分間保持す
る。これを1サイクルとし、全200サイクル行
い、常温に取り出して1時間後に測定する｡
After performing 200 cycles of thermal test
(-55°C 30 minutes to +85°C 30 minutes),
components shall be left in natural condition for
1 hour.
項 目
Item
第１表 Table 1
Test Condition
試 験 条 件
Murata Manufacturing Co.,Ltd.
Specification After Test
700mV 以上 / min.
規 格
第１表を
満足します。
The measured
value shall meet
Table 1.
試験後の規格
Specification
After Test
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